為了評價分析電子產品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗。試驗目的通常有如下幾方面：

1. 在研制階段用以暴露試制產品各方面的缺陷，評價產品可靠性達到預定指標的情況；

2. 生產階段為監(jiān)控生產過程提供信息；

3. 對定型產品進行可靠性鑒定或驗收；

4. 暴露和分析產品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及有關的失效模式和失效機理；

5. 為改進產品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產品提供依據(jù)。

對于不同的產品，為了達到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗方法。可靠性試驗有多種分類方法.

1. 如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗；

2. 以試驗項目劃分，可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗；

3. 若按試驗目的來劃分，則可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗；

4. 若按試驗性質來劃分，也可分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類。

5. 但通常慣用的分類法，是把它歸納為五大類:

A. 環(huán)境試驗

B. 壽命試驗

C. 篩選試驗

D. 現(xiàn)場使用試驗

E. 鑒定試驗

1. 環(huán)境試驗是考核產品在各種環(huán)境（振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等）條件下的適應能力，是評價產品可靠性的重要試驗方法之一。

2. 壽命試驗是研究產品壽命特征的方法，這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進行。壽命試驗是可靠性試驗中zui重要zui基本的項目之一，它是將產品放在特定的試驗條件下考察其失效（損壞）隨時間變化規(guī)律。通過壽命試驗，可以了解產品的壽命特征、失效規(guī)律、失效